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專利名稱:檢測基板、拉曼光譜檢測系統及拉曼光譜檢測方法
國家:中華民國
專利編號:I759776
領域類別:測量、測試
公告讓與日期:2023/08/23
專利介紹:

一種檢測基板包含基板、濕潤層、阻障層、反應層、對電極層、參考電極層、絕緣框體及多個佈線。基板包含對電極、工作電極及參考電極。反應層位於阻障層上,反應層表面為自然微蝕刻奈米圖案。對電極層具容納區,容納反應層,自然微蝕刻奈米圖案顯露於容納區外。絕緣框體位於量測區上。佈線將工作電極電性連接反應層、將對電極電性連接對電極層及將參考電極電性連接參考電極層。檢測基板具電極。使用時,電化學設備施加預設反應電位予檢測基板,並進行拉曼光譜分析,以獲得強化拉曼光譜訊號。本發明還提出一種拉曼光譜檢測系統及拉曼光譜檢測方法。

專利公報